高低溫試驗箱的試驗方法與標(biāo)準(zhǔn)如何進(jìn)行選擇
高低溫試驗箱通常被用來做高溫試驗、低溫試驗以及高低溫試驗的組合，其各種試驗的試驗方法與標(biāo)準(zhǔn)選擇一般以以下為準(zhǔn)：
高溫和低溫試驗是zui常見的一種環(huán)境試驗項目。低溫試驗對產(chǎn)品產(chǎn)生的影響主要使材料變成脆硬性，致使破損開裂，強度降低，潤滑作用減小，電子元器件性能引起變化等。高溫試驗對產(chǎn)品的影響主要表現(xiàn)在改變材料的物理性能和尺寸，不同的材料膨脹不一致使零件粘結(jié)，潤滑劑外流使?jié)櫥芰p失，電器元件過熱損壞，電子電路穩(wěn)定性改變等。如對帶有塑膠件的產(chǎn)品這二項試驗就很能夠暴露問題。
高溫和低溫試驗試驗一般安排在一套試驗的早期，且為相信順序，這樣既能夠考核等高溫對的耐高溫和低溫能力也能夠達(dá)到耐溫變試驗的效果。高溫和低溫試驗依據(jù)國標(biāo)GB/T 2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法A：低溫試驗方法》和GB/T 2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法B：高溫試驗方法》。有散熱樣品溫度漸變和非散熱樣品溫度漸變所做的規(guī)定來選擇，分為高溫工作和低溫工作試驗、高溫存儲和低溫存儲試驗，據(jù)實際樣品所屬是否散熱用工作和存儲兩種不同溫度點和產(chǎn)品狀態(tài)來進(jìn)行合適的考量。高溫和低溫工作試驗的溫度嚴(yán)酷度一般低于存儲類溫度5～10℃。在實際檢測中*行工作試驗考核后再做關(guān)機(jī)狀態(tài)下存儲試驗，對于部分大電流、高發(fā)熱的電器產(chǎn)品，其高溫工作試驗可以代替高溫存儲試驗，因為其工作時溫度已經(jīng)超出其存儲溫度極限，故只需進(jìn)行高溫工作試驗即可。常見的高溫工作試驗溫度有：40℃、50℃，高溫存儲試驗溫度有：50℃、55℃，低溫工作試驗有：0℃、-10℃、-20℃，低溫存儲試驗溫度有：-20℃、-40℃，工作試驗時間2h～4h～8h，存儲試驗8h～16h～24h。通常高溫和低溫試驗?zāi)軌虮┞冻霎a(chǎn)品的缺陷如：外殼變形，電性能故障不能正常運行等，從而達(dá)到整改的目的。如產(chǎn)品高溫可靠性試驗也是高溫工作試驗一種。
高低溫組合也是覺的試驗項目(推薦使用可程式高低溫試驗箱)，多用來更嚴(yán)酷地考核產(chǎn)品內(nèi)外結(jié)構(gòu)性能和電性能。
a)溫度沖擊試驗-溫度突變Na是目前常用來考核元器件和材料一種試驗。高低溫沖擊試驗是通過快速溫變來達(dá)到考核產(chǎn)品的目的，因為屬于非工作狀態(tài)高低溫沖擊試驗的指標(biāo)上、下限多采用高、低溫存儲試驗的上、下限，可參照試驗樣品在高、低溫存儲試驗中獲得的的溫度響應(yīng)特性等信息。 b)溫度變化試驗-溫度漸變Nb常用來考核整機(jī)試驗。在試驗中產(chǎn)品按要求可處于工作狀態(tài)，因此溫度變化試驗的上、下限往往使用高、低溫工作試驗的上、下限。這二項試驗參照的標(biāo)準(zhǔn)有GB/T 2423.22-2002《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化》等，根據(jù)實際要求選擇高溫點和低溫點，滯留時間，溫變速率，循環(huán)次數(shù)定試驗等級。
